摘 要:
文中通過數(shù)量多的工藝嘗試和產(chǎn)品證驗,解決了塑封BGA部件燒焊良率和靠得住性的問題。隨著金屬封裝BGA(CCGA)的應(yīng)用,對金屬BGA(CCGA)燒焊橋連問題施行敘述分析, 針對印刷網(wǎng)板厚度及張嘴形式的改進,提出一點改善金屬BGA(CCGA)燒焊品質(zhì)工藝辦法, 在實踐中獲得了令人滿意效果。
隨著電子產(chǎn)品向小規(guī)模化、便攜化、網(wǎng)絡(luò)化和高性能方向的進展,對電路組裝技術(shù)和I/O引線數(shù)提出了更高的要求。因為球柵陣列封裝(Ball Grid Array,BGA)部件芯片的管腳散布在封裝的底面,所以可容受的I/O數(shù)很少。若將封裝外殼基板原東南西北引出的引腳成為以面陣布局的Pb/Sn凸點引腳,就可容受更多的I/O數(shù),且更容易運用SMT與PCB上的布線引腳燒焊互連,這么要得BGA在電子商品生產(chǎn)領(lǐng)域取得了更加廣泛的應(yīng)用。隨著產(chǎn)品的要求,高等級的部件認(rèn)為合適而使用金屬外殼封裝的BGA(CCGA)也越來越多地應(yīng)用到產(chǎn)品中。CCGA封裝是BGA封裝的擴展,用柱柵代替了球柵,大大緩解了部件基體與電路板熱體脹系數(shù)不般配帶來的熱疲乏問題;其封裝方式還表決其具備耐高溫、耐高壓和高靠得住性的特別的性質(zhì),適合使用于更大尺寸和更多I/O的事情狀況,在軍事、航空和航大氣中的電荷子產(chǎn)品制作領(lǐng)域占領(lǐng)更加關(guān)緊的地位。因為這個,為增長金屬封裝BGA(CCGA)燒焊后焊點的品質(zhì)和靠得住性,就金屬封裝BGA(CCGA)燒焊工藝施行優(yōu)化研討,將為將來進展起到很大效用。
本次SMT出產(chǎn)線,成功實現(xiàn)從了半自動上板、半自動涂覆焊膏、焊膏檢驗測定、機器貼片、X-ray/爐前AOI檢驗測定、真空氣相燒焊、爐后AOI檢驗測定、在線ICT測試、半自動下板。針對常用的各類元部件開展了多次工藝嘗試,并運用正交辦法對不一樣組合的工藝參變量燒焊了多塊包括阻容件、塑封BGA部件、FP/QFP封裝部件的嘗試板,均沒有顯露出來燒焊品質(zhì)問題。但在燒焊包括金屬封裝BGA部件的電路板時,燒焊后經(jīng)過X-ray檢查驗看時發(fā)覺金屬封裝BGA部件發(fā)生焊點橋連(短路)。部件外觀如圖1所示。
針對顯露出來的問題,運用魚刺圖辦法對顯露出來故障的端由施行剖析,列出了所可能有關(guān)的因數(shù),如圖2所示。
該次認(rèn)為合適而使用的是半自動印刷機配搭激光張嘴鋼網(wǎng)施行的錫膏印刷,假如鋼網(wǎng)張嘴過大,還是鋼網(wǎng)厚度過厚均會直接增加錫膏量,而過多的錫膏量在燒焊特殊情況直接影響橋連的發(fā)生(到現(xiàn)在為止鋼網(wǎng)的張嘴尺寸與PCB焊盤體積完全一樣,比例為100百分之百,鋼網(wǎng)厚度為0.13 mm)。
1)設(shè)施印刷壓力過大,會造成錫膏有沉陷的現(xiàn)象,因此要得焊盤上錫膏之間的間距變小。但假如印刷壓力過小,會使鋼網(wǎng)外表遺留局部錫膏,造成錫膏量過多。
2)設(shè)施印刷速度過快,會使下錫不充分,錫膏成型非常不好,錫膏量較少。但假如印刷速度過慢,又會造成下錫過于充分,錫膏量增加。
3)印刷時的電路板底部支撐不夠,會造成印刷時電路板向下屈曲,因此增大鋼網(wǎng)與電路板之間的空隙,錫膏會從空隙里流入電路板,造成錫量增多。
4)因為影像辨別問題造成電路板與鋼網(wǎng)對位非常不好,造成印刷偏移(如圖4),更容易造成燒焊橋連的發(fā)生。
經(jīng)剖析,其它不含金屬BGA部件的印制板組件運用一樣的焊膏印刷參變量均沒有問題,因此因素可擯除。
1)到現(xiàn)在為止均運用貼片機施行貼片,但假如貼片壓力過大會造成錫膏沉陷較大,相鄰的錫膏容易發(fā)生橋連現(xiàn)象;2)吸嘴尺寸較小吸力不充足,設(shè)施移動過快也會造成貼片發(fā)生偏移;3)若機器影像辨別手續(xù)沒制造好,則沒有辦法準(zhǔn)確辨別到部件的核心,造成貼片偏移,貼片偏移將直接影響
燒焊橋連的發(fā)生。經(jīng)剖析,其它不含金屬BGA部件的電路板運用一樣的貼片工藝參變量均沒有問題,因此因素可擯除。
因為SMT出產(chǎn)線設(shè)施是由專業(yè)擔(dān)任職務(wù)的人施行操作出產(chǎn),涵蓋燒焊前的設(shè)施檢查驗看,因為這個擔(dān)任職務(wù)的人操作問題可以擯除。額外經(jīng)過對發(fā)生橋連的BGA事情狀況施行計數(shù),所有集中在金屬外殼的BGA上,其關(guān)鍵尺寸規(guī)格也相對集中。因為錫球均較大,燒焊時錫球消融,金屬BGA品質(zhì)較重,相鄰的錫球也容易發(fā)生橋連現(xiàn)象。航天產(chǎn)品在出產(chǎn)運用前均需求送有天資的單位施行二次用篩子選,能力保證出產(chǎn)運用的元部件品質(zhì)令人滿意。
背景濕潤程度較大造成部件潮氣滲入,燒焊過程中焊點的水汽向外排出會使錫球變型,造成相鄰錫球橋連。經(jīng)查在場溫濕潤程度記錄,均在工藝規(guī)定的范圍內(nèi)。
經(jīng)過對貼片后和燒焊后的愛克斯射線影像做對頭比,發(fā)覺貼片后BGA位置及錫膏的塌坍均很正常,但燒焊后還是顯露出來橋連的現(xiàn)象(如圖3)。經(jīng)過比較燒焊前后的BGA高度也可以看出,BGA燒焊后高度減低了二分之一左右(如圖4),并且橋連不好均集中在金屬BGA部件,所以開始階段的分辨斷定,發(fā)生橋連的端由就是錫量較多。不過經(jīng)過對錫膏檢驗測定機的明確承認(rèn),其各項指標(biāo)均在管理控制之內(nèi)。故可確認(rèn)鋼網(wǎng)張嘴尺寸過大、厚度過厚是引動錫球橋連的主要端由。
經(jīng)過上面所說的剖析已經(jīng)找到發(fā)生橋連的主要端由,針對這一端由制定處理辦法,通過調(diào)試鋼網(wǎng)的張嘴尺寸、鋼網(wǎng)厚度兩項工藝參變量,通不為己甚步實行證驗剖析的準(zhǔn)確性。
步驟1:維持鋼網(wǎng)的張嘴尺寸未變(100百分之百),將鋼網(wǎng)的厚度由0.13 mm調(diào)試為0.12 mm;步驟2:在步驟1的嘗試最后結(jié)果上,調(diào)試鋼網(wǎng)的張嘴尺寸。
為了保證減低錫膏量后,對其他部件的燒焊品質(zhì)無影響,選取了焊盤較小的金屬CCGA封裝部件和常用的BGA部件施行燒焊嘗試。選用0.12 mm厚度鋼網(wǎng),在其他工藝參變量未變的條件下,燒焊嘗試板3塊,每塊嘗試板上均有金屬封裝BGA器件和金屬封裝CCGA部件各一片。焊后的嘗試電路板外觀及檢驗測定位置如圖5所示。燒焊完成經(jīng)檢查驗看無問題后行剖析,剖析過程照片兒見圖6~圖9所示。
對部件施行IMC厚度、剪切力和張力測試,測試最后結(jié)果如表1所示。測試最后結(jié)果滿意IPC標(biāo)準(zhǔn)要求。
為了證驗依照步驟1改進后的品質(zhì)提高事情狀況,對燒焊的產(chǎn)品施行計數(shù)。共燒焊了34片金屬封裝BGA部件,仍有3片錫球發(fā)生橋連,一次燒焊符合標(biāo)準(zhǔn)率為91.17百分之百。為了進一步提高一次燒焊符合標(biāo)準(zhǔn)率,在步驟1的基礎(chǔ)上,將鋼網(wǎng)的張嘴比例由100百分之百調(diào)試為95百分之百,在其他工藝參變量未變的條件下,燒焊嘗試板3塊,每塊嘗試板上均有金屬封裝BGA部件和金屬封裝CCGA部件各一片,燒焊完成經(jīng)檢查驗看無問題后行剖析,測試最后結(jié)果如表2所示,滿意IPC標(biāo)準(zhǔn)要求。
運用再次優(yōu)化后的工藝燒焊了115片金屬封裝BGA部件,沒有再顯露出來錫球橋連事情狀況,符合標(biāo)準(zhǔn)率達100百分之百。